시험관 시술아이, 신경발달에 문제 있을 수도

시험관 시술로 태어난 아이는 신경발달에 문제가 생길 수도 있다는 연구결과가 나왔다.

네덜란드 그로닝겐 대학 연구팀은 206명의 신생아를 대상으로 엄마의 난임, 즉 임신이 어려운 정도와 신생아의 신경발달 관계를 조사했다. 연구팀이 조사한 아이들 가운데 122명은 정상 임신이 안돼 시험관 시술을 받은 아이들이었다. 또 87명은 자연 임신으로 출산된 아이들이었다.

연구팀은 오랜 시도 끝에 임신돼 태어난 아이들은 가벼운 신경발달 장애를 가질 확률이 빨리 임신돼 태어난 아이들보다 30% 가량 높다는 사실을 발견했다. 이런 가벼운 신경발달 문제를 가진 아이들은 평균적으로 임신하는데 4년 이상 걸린 경우에 많았다. 임신까지 2년 8개월이나 그 이하가 걸린 경우에는 출산 아동의 신경발달에 이상이 없었다.

연구팀은 신생아들의 움직임, 동작, 반사신경 등을 측정해 이 같은 결과를 얻었다. 신경발달에 이상이 있다고 해도, 대부분 일상 생활에 큰 지장을 줄 정도는 아니었다고 연구팀은 밝혔다.

일반적으로 시험관 임신을 통해 태어난 아이들은 미숙아이거나 저체중아 가능성이 높은 것으로 알려져있다. 이번 연구결과는 오랜 시도 끝에도 임신이 안 돼 시험관 임신을 하는 경우, 신경발달에도 가벼운 문제를 일으킬 수 있다는 점을 보여준 것으로 풀이된다.

이번 연구 내용은 ‘어린이 질병 학회지’ 최근호에 논문으로 게재됐다.

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문혜준 기자 hjune@joongang.co.kr <저작권자 ⓒ 중앙일보헬스미디어 무단전재 및 재배포금지>

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